TDL激光微量氣體分析儀EDK 6900S系列
EDK系列產(chǎn)品采用增強型TDLS技術，0.1nm的掃描波長，避免目標被測氣體吸收波長的交叉干擾，也可稱為“指紋光譜"，可實現(xiàn)高分辨率的近紅外吸收測量。

TDL激光微量氣體分析儀原理

EDK系列產(chǎn)品采用增強型TDLS技術，0.1nm的掃描波長，避免目標被測氣體吸收波長的交叉干擾，也可稱為“指紋光譜"，可實現(xiàn)高分辨率的近紅外吸收測量。電子鎖相技術實現(xiàn)從光電信息中提取并分離出被測氣體的吸收信息，此種檢測方法，不需要物理參考池，且提供了連續(xù)的傳感器狀態(tài)監(jiān)測。EDK TDL6900系列產(chǎn)品提供了高精度、低檢測限的解決方案，儀器具有對被測氣體高準確度選擇性進行非接觸式測量、免標定、低成本、易操作等特點。

EDK TDL6900系列產(chǎn)品可以輕松測量一些常規(guī)方式不易測量的微量氣體，比如NH3、CH4、CO2、H2O等，這些氣體的監(jiān)測與分析在很多工業(yè)場合至關重要。高靈敏度和寬的動態(tài)量程，是可調諧半導體激光器光譜（TDLS）技術的基本特性，可用于測量sub-ppm到%范圍的氣體。

TDL激光微量氣體分析儀優(yōu)勢

1. 超高靈敏度

2. 功能安全、持續(xù)狀態(tài)報告

3. 長壽命（+10年）

4. 快速響應

5. 低功耗

6. 低成本方案（無耗材、備品備件、無需再標定）

7. 19"安裝支架

8. 優(yōu)秀的低成本元器件決定低成本傳感器

9. 友好的人機界面

10. 數(shù)據(jù)存儲與日志

11. 可擴展的多點采樣系統(tǒng)

12. 零點&寬量程校正

13. 傳感器狀態(tài)自檢