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    AMC監(jiān)測
    產(chǎn)品簡介

    AMC監(jiān)測快速監(jiān)測、報(bào)警、極低濃度測量、寬測量區(qū)域、多氣體的高靈敏響應(yīng)等是半導(dǎo)體工業(yè)要求之一。

    產(chǎn)品型號:
    更新時間:2024-11-01
    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
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    品牌杜克泰克

            完善的空氣分子污染物AMC監(jiān)測

    實(shí)時監(jiān)測空氣分子污染(AMC )對于半導(dǎo)體生產(chǎn)過程極為重要。

    AMC監(jiān)測快速監(jiān)測、報(bào)警、極低濃度測量、寬測量區(qū)域、多氣體的高靈敏響應(yīng)等是半導(dǎo)體工業(yè)要求之一。深紫外光刻工藝特別關(guān)注氨、胺類、N-甲基毗咯烷酮NMP、酸類等濃度測量,當(dāng)這些氣體與化學(xué)放大光刻膠反生反應(yīng) 時,將深深的影響半導(dǎo)體器件質(zhì)量。


    傳統(tǒng)古老的方法多采用間接測量分析方法。包括撞擊濾塵器、離子色譜、化學(xué)熒光法,這些方法分析速度太慢,操作過程太復(fù)雜,昂貴并且測量結(jié)果不精確。


         CEAS (腔增強(qiáng)吸收光譜)---原理

    基于CEAS(腔增強(qiáng)吸收光譜)技術(shù)的儀器原理圖,使用近紅外波段光進(jìn)行高靈敏度吸收測量,測量腔室由一組高反射率多次反射鏡片組成的柱狀體構(gòu)成,激光束經(jīng)過固態(tài)校準(zhǔn)器(FSR=2.00GHz)時會測量得到相對激光波長。為了保證清晰度,忽略了原本照射到左側(cè)測量單元腔鏡外的光束。


    EP增強(qiáng)型版本集成了壓力傳感器和內(nèi)部溫度控制器,具有超穩(wěn)定性測量腔室,防止溫度漂移、壓力變化等造成的誤差。

           CEAS(腔增強(qiáng)吸收光譜)相比于第一代的CRDS(腔衰蕩光譜)技術(shù),有許多已被證明的優(yōu)勢。簡而言之,激光束不需要 共振耦合進(jìn)入測量腔室(例如光束不需要嚴(yán)格對準(zhǔn))。DUKE分析儀器和系統(tǒng)具有天生安裝簡單、機(jī)械牢固、防護(hù)結(jié)實(shí)等特點(diǎn)。


     

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